O7 晶体学
O71 几何晶体学
O711 晶体对称性
O711+.1 对称性理论
O711+.2 点群和有限图形的对称性
O711+.3 空间群和点阵图形的对称性
O711+.4 晶系、晶类
O712 点阵和倒易点阵
O713 晶体外形和晶体投影
O713+.1 测角技术与仪器
O713+.2 晶体投影
O713+.3 晶体外形规律
O713+.4 晶体外形数据
O713+.5 晶体习性
O72 X射线晶体学
O721 晶体对Ｘ射线、电子和中子的衍射理论
O722 衍射实验及数据处理
O722+.1 劳厄法
O722+.2 周转法、回摆法及魏森伯法
O722+.3 倒易点阵直接照相法
O722+.4 粉末法
O722+.5 低角散射（小角散射）
O722+.6 漫散射
O722+.7 电子衍射与中子衍射
O722+.8 扩展Ｘ射线吸收精细结构（EXAFS）
O723 结构分析
O723+.1 粉末法中单胞的确定
O723+.2 空间群的测定
O723+.3 傅立叶综合法（帕特森投影及电子云分布法）及重原子法
O723+.4 周相问题
O723+.5 结构分析所用的模拟及计算工具
O723+.6 结构参数的准确测定
O723+.7 点阵常数的准确测定
O73 晶体物理
O731 晶体的物理性质
O732 晶体的各向异性
O732+.1 晶体的矢量和张量性质
O733 晶体的力学性质
O733+.1 点阵力学
O733+.2 弹性与滞弹性
O733+.3 范性形变
O733+.9 其他
O734 晶体的光学性质
O734+.1 电光、弹光、非线性光学效应
O734+.2 折射、反射
O734+.3 发光现象
O735 晶体的声学性质
O736 晶体的热学性质
O737 晶体的磁学性质
O738 晶体的电学性质
O739 晶体物理实验
O74 晶体化学
O741 晶体结构数据（结构报告）
O741+.1 金属和合金体系
O741+.2 矿物
O741+.3 无机物
O741+.4 硅酸盐
O741+.5 氧化物体系
O741+.6 有机物
O742 晶体化学的规律性
O742+.1 晶体中的化学键
O742+.2 原子半径、离子半径及极化率
O742+.3 密堆积和配位
O742+.4 同晶型和多晶型
O742+.5 化学组成和结构间的关系
O742+.6 水合物和结晶水
O742+.7 晶体中的氢键
O742+.8 有序、无序转变
O742+.9 结构与性能间的关系
O743 系统晶体化学
O743+.1 元素的晶体化学
O743+.2 金属和合金晶体化学
O743+.3 无机物晶体化学
O743+.4 硅酸盐晶体化学
O743+.5 有机物晶体化学
O743+.51 高聚物晶体化学
O743+.52 蛋白质、生化物质晶体化学
O743+.53 络合物、螯合物和元素有机物晶体化学
O75 非晶态和类晶态
O751 非晶态
O752 丝缕结构
O753 类晶态
O753+.1 微晶
O753+.2 液晶
O753+.3 准晶体
O754 无定形态和琉璃态
O756 非晶态和类晶态材料的应用
O76 晶体结构
O761 复相在晶体中的分布
O762 孪生晶体
O763 晶粒间界
O764 粒度分布
O765 晶体中的应力
O766 观察、分析晶体结构的实验方法
O766+.1 显微镜技术
O766+.2 光测弹性学
O766+.3 Ｘ射线方法
O766+.4 衍射方法
O77 晶体缺陷
O77+1 点缺陷、面缺陷、体缺陷
O77+2 位错
O77+3 色心
O77+4 高能辐射在晶体中的效应
O77+5 杂质
O77+9 其他缺陷
O78 晶体生长
O781 晶体生长理论
O782 晶体生长工艺
O782+.1 溶液法
O782+.2 高温超高压法
O782+.3 焰熔法（维尔纳叶法）
O782+.4 熔盐法（助熔剂法）
O782+.5 提拉法
O782+.6 浮区法
O782+.7 气相-固相反应
O782+.8 固相-固相反应、应变退火法
O782+.9 其他生长方法
O783 再结晶
O784 晶须
O785 单晶体的检验
O785+.1 单晶体的定向
O785+.2 锥光偏振仪技术
O785+.3 X射线拓扑技术
O785+.4 电子自旋共振技术
O785+.5 电子探针分析技术
O785+.6 分光光度计技术
O785+.7 位错密度的测定
O786 晶体加工
O787 区域提纯（区熔提纯）
O79 晶体物理化学过程
O791 扩散
O792 相变
O793 表面现象和表面性能
O794 玻璃的晶化
O795 晶化过程的热力学与动力学
O799 应用晶体学
